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[188金宝博公司 ]Advantest:经典平台添加新模块,满足更高测试需求

关键词:测试测量图形发生器

时间:2014-09-28 16:16:35      来源:世界电子元器件

目前,公司的产品主要涵盖半导体和元件测试系统、机电一体化系统以及其他新业务(电子束光刻、SEM计量、云测试等),专注于半导体测试、电子测试、太赫兹波测试、MEMS技术、纳米技术以及微机电技术领域。

成立于1954年的爱德万(Advantest)公司是一家领先的半导体自动化测试设备(ATE)制造商,提供在电子设备和系统的设计和生产过程中所需的测试测量设备。目前,公司的产品主要涵盖半导体和元件测试系统、机电一体化系统以及其他新业务(电子束光刻、SEM计量、云测试等),专注于半导体测试、电子测试、太赫兹波测试、MEMS技术、纳米技术以及微机电技术领域。

从1993年在北京设立第一家办事处至今,爱德万公司已经服务中国市场超过20年。近年来,中国本土Fabless厂商的快速成长为爱德万公司带来了更好的发展机遇,也加快了其产品推广和宣传的步伐。

全新PVI8浮动电源帮助V93000平台实现高电压和高电流IC测试

Advantest最新发布的PVI8浮动电源进一步提高了V93000的测试能力,使其可以满足高电压、高电流的嵌入式电源设备的测试需求。PVI8浮动电源的加入使得V93000在对嵌入式电源IC进行测试时可以在单个平台上提供需要的电源以及足够的模拟和数字通道来实现高度并行的高效测试。

带有八个浮动通道和四个象限的系统可以提供每通道最高80V的电压和10A的电流。8通道PVI8可以在高速度下为被测试设备(devices under test,DUT)的高电压测试提供总计±80A的电流。在测试高电压源时,PVI8依靠自身的浮动设计可以在不影响性能的情况下提供高达±160V的电压。

PVI8通过基于图形的测试方法利用短功率脉冲防止被测设备过热,从而实现高吞吐量和测试稳定性。该装置的测量范围独立于强制性(电流或电压峰值、强制关断、锁定)范围,因此操作人员可在测量范围内在不毁坏测试设备的情况下开关设备。

值得一提的是,随着公司的长期客户Amkor Technology公司的近期购买,V93000 Smart Scale测试仪器出货量成功达到1000台。

T2000测试平台引入模块实现多功能高效测试

近日,爱德万公司还在其T2000平台上,先后增加了1.6GDM(256通道的数字模块)和DPS150AE(16通道 150A高电流电源模块)两大模块,满足用户在该平台上更高的测试需求。

1.6GDM数字模块用于改善在T2000测试平台上测试片上系统(SoC)时的效率。该模块内嵌了一个名为Functional Test Abstraction Plus (FTA+)的功能来实现协议感知测试。利用该模块,测试仪将在每个IC协议语言下与被测设备直接通信。名为FTA-Elink的EDA-Link将设计仿真器直接连接到T2000测试平台上。此外,利用1.6GDM模块可以在T2000 EPP(增强性能套件)系统运行Verilog代码。通过将测试仪的图形发生器与具有独立定时和记忆功能的协议感知工具配置到一起,可以直接测量协议I/O,实现高效的多址和并行测试。大大提高了用户产品从设计到下线的时间。

而新的T2000增强型设备电源150A(DPS150AE)模块将帮助T2000测试平台满足高电流和低电压半导体元器件(包括MPU、ASIC、FPGA)的高精度测试需求。该模块提高了T2000平台对目标设备进行高吞吐量、多点测试的性能,又将测试成本降至最低。

 

图1 PVI8浮动电源

图2 256通道的数字模块1.6GDM

图3 16通道高电流电源模块DPS150AE

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